IEC/TC47/SC47F国際標準化会議開催される(10月7～11日)

　MEMSに関する国際規格はIEC/TC47技術委員会傘下の分科委員会SC47Fが担当しています。今年はSC47Fを含むTC47全体の会議が10月7日から11日まで英国・ロンドンで開催されました。IEC総会は毎年秋に開催されますが（2013年はインド・ニューデリー）、TC47は今年の招致TCではなかったため、独自の日程で会議が行われました。
　10月7日に開催されたSC47F/WG1会議には計17名（日本6、韓国5、中国5、ドイツ1）が出席し、審議中の規格案について各プロジェクトリーダから状況説明の後、意見交換が行われました。
　その結果、今年7月にNP（新業務項目提案）が承認された日本提案の形状計測法はプロジェクトリーダ（神戸大学・磯野吉正教授）による主旨説明と意見交換の後、CD（委員会原案）に移行することを決議案としました。このほか同じく日本提案の小型ジャイロはFDIS（最終国際規格案）に、海外提案ではバルジ試験法（韓国提案）がCDV（投票用委員会原案）に、残留応力決定法（韓国提案）がCDVに移行することなどを決議案としました。 NP回付中の案件では、ドイツより「マイクロシェブロン試験法を用いた粉末ガラス接合の接合強度試験」について、提案の主旨説明及びプロジェクト参加要請がありました。また今回、MEMS分野で最初に国際規格となったMEMS用語の規格改正について、プロジェクトリーダ（首都大学東京・諸貫信行教授）より改正の主旨と今後の予定について説明が行われました。さらに、これまでSC47FはひとつのWG（作業グループ）で規格案の検討を進めてまいりましたが、これを3つのWG（一般、材料、デバイス）に分割して審議を進める決議案を作成しました。SC47F/WG1として作成した各決議案は、10月9日に開催されたSC47F本会議において採択されました。
　次回会合は2014年6月にスイス・ジュネーブで開催されるSC47Fアドホック会議の予定です。（調査研究・標準部　出井敏夫）