国際標準化への貢献により、土屋智由氏（京都大学准教授、IEC/TC47/SC47Fエキスパート）IEC1906賞受賞

　10月15日に都市センターホテル（東京・永田町）で平成24年度工業標準化事業表彰式が行われ、京都大学准教授の土屋智由氏が、IEC1906賞を受賞致しました。IEC1906賞は、1906年に発足したIECの創立100年にちなんで創設された記念行事のひとつであり、IECの活動に対して多大な貢献のあった個人を表彰することを目的に、2004年以降毎年行われています。

　土屋准教授は、マイクロマシンセンターのIEC/TC47/SC47F国内委員会及び標準化開発のプロジェクトリーダーとして、IECの標準化審議においては長年MEMS分野のエキスパートとして参画されています。

　これまで、日本から提案しIEC国際規格として発行された「薄膜材料の引張強さ試験方法」「薄膜材料の標準試験片」及び「薄膜材料の軸荷重疲労試験方法」のプロジェクトの委員として、また、「共振振動を用いた薄膜材料曲げ試験法」についてはプロジェクトリーダとして規格案作成・提案から標準化審議のフォローまで一貫してかかわってこられました。これらの功績が認められ今回の受賞となりました。