Gデバイス＠BEANS 事後評価分科会開催

去る11月28日、本年3月に終了したH21年度二次補正NEDOプロジェクト「異分野融合型次世代デバイス開発／高機能センサネットシステムと低環境負荷型プロセスの開発」（H22年3月～H23年3月）に関するNEDO事後評価分科会が開催されました。開催場所は、センサネットや8インチMEMSラインを設置した主たる開発拠点：Gデバイスセンターのあった産総研つくば東事業所となりました。評価委員として分会長の帝京大学 大和田邦樹教授、兵庫県立大学 服部正教授、豊橋技科大 石田誠教授、九州大学 澤田廉士教授、早稲田大学 庄子習一教授、千葉工大 室英夫教授の6名のMEMS関連権威の方々が産総研つくば東事業所内MEMSイノベーション棟１F国際セミナー室に参集され、NEDO担当の技術開発推進部奥谷主査と実施者代表としてGデバイス研究体長だった産総研集積マイクロシステム研究センター前田センター長より開発マネジメント及び取り組み成果の概要、同じくGデバイスセンタセンター長だった産総研集積マイクロシステム研究センター伊藤グループ長より取り組み成果の詳細の報告説明を実施、それぞれ質疑を経て、実際のクリーンルーム等の現地調査を実施しました。朝10:30から夕刻16:30まで、活発な質疑、議論等が行われ、最後の評価委員の講評として、わずか1年間で最先端8インチMEMSラインの設置やセンサネット関連の数々の初動研究を実施、MNOICへのつなぎや各企業での実用化への取り組み含め、良好な評価を頂きました。さらにこの初動研究を次へつなげてほしいという課題提示もされました。

この事後評価の結果として、来年度1月にはNEDOでの評価が確定する予定です。それに伴いNEDOホームページで、評価資料や評価結果は公開される見込みです。

また、Gデバイスの活動内容はMMCホームページのGデバイス＠BEANSアーカイブで公開中ですが、その成果の詳細についても近々掲載予定です。ぜひそちらもご訪問ください。

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　技術研究推進室　小池