MEMS関連JISが制定される

　MEMS関連のJISは既に3規格が制定されていますが、4番目の規格JIS C 5630-6が8月22日に制定されました。「マイクロマシン及びMEMS－第6部：薄膜材料の軸荷重疲労試験方法」というタイトルで、薄膜材料の軸荷重引張－引張力疲労試験について規定しています。
　内容は、適用範囲、引用規格、用語及び定義、試験片、試験方法及び試験機、耐久性(試験の終了)、試験報告書となっています。試験方法及び試験機については、試験片のつかみ方、静的引張強さ試験、負荷方法、試験の繰返し速度、試験環境の制御について規定しています。
　この規格は我が国がIECに提案し国際規格として2009年に成立したIEC62047-6をJIS化したものです。内容は一致規格として同一ですので、4番目のJISですがIECの番号に合わせて第6部としています。
　このJIS規格は日本規格協会より購入できます。